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在傳統(tǒng)測(cè)量領(lǐng)域，復(fù)雜工件的檢測(cè)往往面臨效率低、操作繁瑣、動(dòng)態(tài)呈現(xiàn)不足等痛點(diǎn)。而SensoFIVE的出現(xiàn)，正以其特別的五軸動(dòng)態(tài)實(shí)時(shí)呈現(xiàn)技術(shù)，為這一領(lǐng)域帶來(lái)不一樣性的變革。傳統(tǒng)測(cè)量常受困于操作復(fù)雜、動(dòng)態(tài)呈現(xiàn)不足，而SensoFIVE的出現(xiàn)打破了這一局面。，時(shí)長(zhǎng)02:54它與Sneox五軸系統(tǒng)無(wú)縫協(xié)作，三維查看器能實(shí)時(shí)展現(xiàn)五軸運(yùn)動(dòng)細(xì)節(jié)，旋轉(zhuǎn)角度、高度調(diào)整皆直觀可見，讓測(cè)量從抽象變具象。放置樣本到平面托盤，3D查看器可快速還原其形狀；借助旋轉(zhuǎn)支架測(cè)量圓柱體時(shí)，實(shí)時(shí)反饋?zhàn)尣僮鞲憬?，?..

一、Sensofar白光干涉共聚焦顯微鏡核心應(yīng)用場(chǎng)景半導(dǎo)體制造與微電子檢測(cè)晶圓表面形貌測(cè)量：精確檢測(cè)晶圓表面粗糙度(Ra關(guān)鍵尺寸(CD)表征：利用共聚焦模式捕捉光刻膠結(jié)構(gòu)的側(cè)壁粗糙度(Sa封裝缺陷檢測(cè)：檢測(cè)芯片與基板貼合平整度，發(fā)現(xiàn)空洞、翹曲等問(wèn)題，保障電子封裝電氣性能。例如，在動(dòng)力電池模組封裝中，通過(guò)30片/分鐘的高速檢測(cè)識(shí)別0.2μm涂層不均缺陷，年節(jié)省探針刮傷導(dǎo)致的報(bào)廢成本超280萬(wàn)元。精密零部件與模具制造表面粗糙度評(píng)估：測(cè)量發(fā)動(dòng)機(jī)葉片、精密齒輪等高精度零部件的表面形貌...

一、Slynx2：多技術(shù)融合的三維測(cè)量方案該系統(tǒng)在同一傳感器頭內(nèi)集成干涉、共聚焦和AI多焦面疊加技術(shù)，搭配6個(gè)不同鏡頭的電動(dòng)鼻輪與125×75毫米電動(dòng)XY平臺(tái)，可實(shí)現(xiàn)多尺度測(cè)量。點(diǎn)擊觀看網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)視頻↓，時(shí)長(zhǎng)38:28以髖關(guān)節(jié)植入物髖臼杯外部測(cè)量為例，采用共聚焦技術(shù)與50倍長(zhǎng)焦鏡頭，通過(guò)Z向掃描獲取三維圖像，再借助SensoVIEW軟件分析數(shù)據(jù)，精準(zhǔn)評(píng)估表面狀況，為骨細(xì)胞整合優(yōu)化提供依據(jù)二、QvixPivot：支架缺陷檢測(cè)的專業(yè)之選作為針對(duì)支架與心臟瓣膜框架的檢測(cè)方案，其運(yùn)用...

在半導(dǎo)體芯片尺寸逼近物理極限、納米材料應(yīng)用突破傳統(tǒng)邊界的今天，如何實(shí)現(xiàn)微米級(jí)甚至納米級(jí)器件的精準(zhǔn)測(cè)試與操控，成為制約科技創(chuàng)新的關(guān)鍵瓶頸。澤攸憑借自主研發(fā)的探針臺(tái)系列產(chǎn)品，以“三維定位精度達(dá)納米級(jí)、環(huán)境適應(yīng)性跨越-196℃至400℃”的核心技術(shù)，為微納電子、光電材料、量子計(jì)算等領(lǐng)域提供了從基礎(chǔ)研究到產(chǎn)業(yè)化的全鏈條解決方案。一、半導(dǎo)體行業(yè)的“質(zhì)量守門人”在晶圓制造環(huán)節(jié)，澤攸手動(dòng)探針臺(tái)系統(tǒng)通過(guò)特制熱沉設(shè)計(jì)將溫度波動(dòng)控制在±0.1℃以內(nèi)，配合高精度微調(diào)樣品座，可實(shí)現(xiàn)0....

Ssw的定義與物理意義Ssw指的是與傅立葉變換最大值相對(duì)應(yīng)的波長(zhǎng)。從表面紋理的構(gòu)成機(jī)制來(lái)看，任何物體表面都可視為不同尺度波的疊加組合，而傅立葉變換能夠定量分析各個(gè)波長(zhǎng)成分對(duì)整體紋理的貢獻(xiàn)程度。在此過(guò)程中，Ssw參數(shù)所表征的正是對(duì)表面紋理形成貢獻(xiàn)最大的波長(zhǎng)分量。需要特別指出的是，Ssw的應(yīng)用存在一定的適用范圍。當(dāng)面對(duì)缺乏明顯周期性圖案的表面時(shí)，該參數(shù)的表征意義會(huì)相應(yīng)減弱。這是因?yàn)樵谶@種情況下，不存在占主導(dǎo)地位的波長(zhǎng)成分，傅立葉變換的最大值所對(duì)應(yīng)的波長(zhǎng)無(wú)法準(zhǔn)確反映表面的典型特征。...

在半導(dǎo)體制造、精密光學(xué)加工等高級(jí)領(lǐng)域，表面形貌的微小起伏可能直接影響器件性能。白光干涉儀憑借其納米級(jí)測(cè)量精度，成為微觀形貌檢測(cè)的“黃金標(biāo)準(zhǔn)”。其核心原理在于利用光的干涉現(xiàn)象，將表面高度變化轉(zhuǎn)化為可量化的光學(xué)信號(hào)，實(shí)現(xiàn)非接觸、高精度的三維形貌測(cè)量。一、干涉原理：光程差與表面高度的精密映射白光干涉儀通過(guò)分光棱鏡將光源分為兩束光：一束投射至被測(cè)樣品表面，另一束射向參考鏡。兩束反射光在CCD相機(jī)感光面疊加形成干涉條紋。當(dāng)樣品表面存在高度差時(shí)，光程差隨之變化——每移動(dòng)一個(gè)條紋間距，光程...

二維材料作為原子級(jí)厚度的前沿材料，其不同的量子限域效應(yīng)為納米器件研發(fā)開辟了新路徑。而微納加工技術(shù)作為二維材料器件化的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，正迎來(lái)革命性突破——無(wú)掩膜光刻技術(shù)以靈活高效的優(yōu)勢(shì)，成為推動(dòng)二維材料研究進(jìn)展的重要工具。各種二維材料及結(jié)構(gòu)二維材料研究的核心挑戰(zhàn)與技術(shù)流程二維材料（如石墨烯、過(guò)渡金屬硫化物等）的電學(xué)性能研究需經(jīng)歷多維度技術(shù)攻關(guān)：1材料制備與篩選機(jī)械剝離法可獲取高純度單晶薄片，化學(xué)氣相沉積（CVD）能實(shí)現(xiàn)晶圓級(jí)薄膜生長(zhǎng)；拉曼光譜（如石墨烯G峰1580cm?1、2D峰27...

關(guān)注我們這今日，要為大家重磅介紹一對(duì)科研領(lǐng)域的“黃金搭檔”：??Sensofar的3D光學(xué)輪廓儀??Instec的高精度冷熱臺(tái)3D光學(xué)輪廓儀探針冷熱臺(tái)3D光學(xué)輪廓儀，則如同微觀世界的“火眼金睛”，實(shí)時(shí)凝視著樣品，將樣品在不同溫度波動(dòng)過(guò)程中，發(fā)生的納米級(jí)材料表面形貌變化清晰呈現(xiàn),而冷熱臺(tái)，作為構(gòu)建穩(wěn)定溫度環(huán)境的基石，能夠?yàn)闃悠诽峁┮粋€(gè)從-190℃的極寒到400℃高溫的可控溫度工作臺(tái)。圓封裝中的關(guān)鍵應(yīng)用在硅晶片制造的精密流程里，快速熱處理（RTP）占據(jù)著舉足輕重的地位。在這一環(huán)節(jié)...